Die RWTH Aachen University hatte ein Unternehmen gesucht, welches ein hochauflösendes Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer (ToF-SIMS) zur Oberflächenspektrometrie, Oberflächenabbildung, Tiefenprofilierung und 3D-Analyse von Kunststoffen liefert. Das Ansturm auf diese Ausschreibung war nicht groß – nur die IONTOF GmbH aus 48149 Münster hatte ein Angebot eingereicht. So ging der Auftrag auch am 18.04.2023 ganz ohne Wettbewerb an das Unternehmen aus Nordrhein-Westfalen für immerhin 1 692 022.20 EUR.
ls 30.4.2023