Die Friedrich-Schiller-Universität Jena (Thüringen) beabsichtigt zur schnellen Probeninspektion und Vermessung von Nano- und Mikrostrukturen ein Rasterelektronenmikroskop (REM) anzuschaffen. Von den drei Unternehmen, die Angebote abgaben, erhielt die JEOL (Germany) GmbH aus Freising (Bayern) den Zuschlag. Für den Auftraggeber sicher erfreulich: Der Auftrag ist im Vergleich zum veranschlagten Auftragswert von 630 000,00 Euro 21 Prozent günstiger vergeben und wird zum Auftragswert von 519 154,70 Euro ausgeführt.
dh 21.10.2023